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单片机控制系统的抗干扰优化设计-机电毕业论文(2)

2013-07-16 01:12
导读:导致系统运行不稳定的内部因素主要有以下三点: (1) 元器件本身的性能与可靠性。元器件是组成系统的基本单元,其特性好坏与稳定性直接影响整系统

  导致系统运行不稳定的内部因素主要有以下三点:
  (1) 元器件本身的性能与可靠性。元器件是组成系统的基本单元,其特性好坏与稳定性直接影响整系统性能与可靠性。因此,在可靠性设计当中,首要的工作是精选元器件,使其在长期稳定性、精度等级方面满足要求。随着微技术的发展,电子元器件的可靠性不断提高,现在小功率晶体管及中小规模IC芯片的实际故障大约为10×10-9/h。这为提高系统性能与可靠性提供了很好的基础。
  (2) 系统结构设计。包括硬件电路结构和运行软件设计。电路设计中要求元器件或线路布局合理以消除元器件之间的电磁耦合相互干扰,优化的电路设计也可以消除或削弱外部干扰对整个系统的影响,如去耦电路、平衡电路等。同时也可以采用冗余结构,也称容错技术或故障掩盖技术,它是通过增加完成同一功能的并联或备用单元〔包括硬件单元或软件单元〕数目来提高系统可靠性的一种设计方法。当某些元器件发生故障时也不影响整个系统的运行。对于消减外部电磁干扰,可采用电磁兼容设计,目的是提高单片机系统在电磁中的适应性,即能保持完成规定功能的能力。常用的抗电磁干扰的硬件措施有滤波技术、去耦电路、屏蔽技术、接地技术等。
  软件是微机系统区别于其它通用电子设备的独到之处,通过合理编制软件可以进一步提高系统运行的可靠性。常用的软件措施主要有:一是信息冗余技术,对单片机控制系统应用而言,保持信号信息和重要数据是提高可靠性的主要方面。为防止系统故障等原因而丢失信息,常将重要数据或文件多重化,复制一份或多份"拷贝",并存于不同空间,一旦某一区间或某一备份被破坏,则自动从其它部分重新复制,使信息得以恢复。二是时间冗余技术,为提高单片机控制系统应用的可靠性,可采用重复执行某一操作或某一程序,并将执行结果与前一次结果进行比较对照来确认系统工作是否正常。只有当两次结果相同时,才被认可,并进行下一步操作。
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  若两次结果不相同,可再次重复执行一次,当第三次结果与前两次之中的一次相同时,则认为另一结果是偶然故障引起的,应剔除。若三次结果均不相同,则初步判定为硬件永久性故障,需进一步检查。这种办法是用时间为代价来换取可靠性,称为时间冗余技术,也称为重复检测技术。三是故障自动检测与诊断技术,对于复杂系统,为了保证能及时检测出有故障装置或单元模块,以便及时把有用单元替换上去,就需要对系统进行在线测试与诊断。这样做的目的有两个:一是为了判定动作或功能的正常性;二是为了及时指出故障部位,缩短维修时间。四是软件可靠性技术:单片机控制系统运行软件是系统要实行的各项功能的具体反映。软件的可靠性主要标志是软件是否真实而准确地描述了要实现的各种功能。因此对生产工艺过程的了解程度直接关系到软件的编写质量。提高软件可靠性的前提条件是设计人员对生产工艺过程的深入了解,并且使软件易读、易测和易修改。五是失效技术:有些重要系统,一但发生故障时希望整个系统应处于安全或保险状态。此外,还有常见的数字滤波、程序运行监视及故障自动恢复技术等。
  (3) 安装与调试。元器件与整个系统的安装与调试,是保证系统运行与可靠性的重要措施。尽管元器件选择严格,系统整体设计合理,但安装工艺粗糙,调试不严格,仍然达不到预期的效果。
  导致系统运行不稳定的外因是指单片机控制系统所处工作环境中的外部设备或空间条件导致系统运行的不可靠因素,主要包括以下几点:一是外部电气条件,如电源电压的稳定性、强电场与磁场等的影响;二是外部空间条件,如温度、湿度,空气清洁度等;三是外部条件,如振动、冲击等。
  为保证系统可靠工作,必须创造一个良好的外部环境。例如:采取屏蔽措施、远离产生强电场干扰的设备;加强通风以降低环境温度;安装紧固以防振动等。 (科教作文网http://zw.NSEaC.com编辑发布)
  元器件的选择是根本,合理安装调试是基础,系统设计是手段,外部环境是保证,这是可靠性设计遵循的基本准则,并贯穿于系统设计、安装、调试、运行的全过程。为实现这些准则,必须采取相应的硬件或软件方面的措施,这是可靠性设计的根本任务。
  中小规模的单片机控制系统在开发过程中,结合实际应用中的工作环境,采用以上的系统抗干扰优化设计的措施与方法,基本能有效地提高单片机系统的工作稳定性,充分地体现单片机控制系统在不增加控制的情况提高机电设备的自动化性能与智能性的优越所在。
  
  参考文献
  [1] 胡连柱, 姜宝山. 简析单片机软硬件的抗干扰设计技术, 安徽电子信息职业技术学院学报, 2005,01.
  [2] 徐明龙, 王赤虎. 利用单片机实现的模拟信号和数字信号单线混合传输, 电子设计应用, 2004, 1.
  [3] 董文武. 微机接口技术, 中国水电出版社, 2001, 9.
  [4] 徐梅. 单片机系统常用抗干扰措施, 高校实验室工作研究, 2006, 4.
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