基于FPGA的集成运放参数测试仪-信息安全毕业论文

基于FPGA的数字式集成运放参数测试仪摘要：本设计在国家标准规定的辅助运放测试法的基础上，分析了影响运算放大器参数测试精度和稳定性的诸多原因和因素，采取了在被测运放的反馈网络中引入二次超前补偿等针对性的措施，对运算放大器自动参数测试提出了优化的设计方法。
本文描述了通用型运算放大器参数自动测试系统的设计。作品能够测试输入失调电压VIO，输入失调电流IIO，开环增益AVD，交流共模抑制比KCMR和基极偏置电流IIb等参数。通过菜单选择，可进行单参数测量或多参数自动测量，其结果显示于液晶屏上并可通过微型打印机打印。作品还具有将被测运放闭环幅频特性曲线显示于模拟示波器上的功能。
运放参数主测试电路[1]采用辅助放大器测试法设计，通过相位补偿网络消除电路自激现象。不同参数测试电路及量程的自动切换通过开关矩阵实现。系统高速扫频信号源通过DDS电路产生，而5Hz交流测试信号源利用D/A实现。由于采取了较好的隔离和抗干扰措施，使系统稳定性及测试精度得到大大提高。 采取FPGA芯片使系统控制更加稳定，具备较好的扩展能力。通过自制测试电路（参照国标GB342-82）对本测试仪定标，使作品的各项参数测试能够有较好的精度。
关键词：集成运放； 参数测试；自动测试系统； FPGA. BASED ON FPGA DIGITAL INTEGRATED FUNNCTIONAL PARAMETER TESTERAbstract: Based on the assistant test methods of OA mentioned in the national standard, a lot of factors are considered, which influence the precision