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全扫描结构在MCU设计中的应用

2013-08-11 01:12

全部作者： 刘文峰 第1作者单位： 电子科技大学 微电子与固体电子学 摘要： 本文通过在8bit RISC MCU中用SYNOPSYS公司的DFT COMPILER进行扫描设计实际工程实践基础上，总结出了在复杂芯片中进行扫描链插入时所遇到的具有普遍意义的问题,提出了相应的解决方法。 关键词： 可测性设计、全扫描、MCU (浏览全文) 发表日期： 2007年02月03日 同行评议：

1) 请将全文的\" 可测性\"改写为\" 可测试性\" 才规范; 2) 参考文献太少. 实际上, 国内外该类研究很多, 可以再列出部分参考文献; 3) 部分文字表达不太流畅。

综合评价： 修改稿： 注：同行评议是由特聘的同行专家给出的评审意见，综合评价是综合专家对各要素的评议得出的数值，以1至5颗星显示。