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一种集成电路产品测试系统的设计与实现

2014-10-08 01:18

全部作者： 曹维国 邓中亮 王峥 第1作者单位： 北京邮电大学电子工程学院 摘要： 本文回顾了数字集成电路的测试技术；分析了该项技术在对SIM形式封装的数字集成电路测试中的缺陷和不足；针对目前的测试系统的单1和性能价格比例偏低的情况提出了1种新型的综合测试系统，详细介绍了该系统的工作原理及组成，讨论了该系统的软硬件设计方案，总结了其优点。 关键词： 用户识别模块，集成电路，测试系统，精密测量单元 (浏览全文) 发表日期： 2007年07月16日 同行评议：

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