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集成电路芯片面积的键合点限定模型

2014-11-12 01:38

全部作者： 韩孝勇 刘毅 彭渤 庄奕琪 第1作者单位： 西安电子科技大学 摘要： 本文提出了1种新的计算集成电路芯片面积的键合点限定模型。该模型从键合点的作用、排列特点及应用背景等方面阐述了键合点限定芯片面积的机理，说明了键合点不仅是芯片与外部电路连接的桥梁，而且对指导IC设计、选择工艺水平、预测芯片面积等方面有重要作用。利用本文提供的模型可以计算出给定键合点数目所限定的芯片面积(SPad-limited)和键合点限定的内面积(S’Pad-limited)，文中也给出了1般数字IC内部电路面积(Score)与工艺水平之间经验公式，并以实例说明，当键合点内面积与内部电路面积相等时（S’Pad-limited=Score），产品才能达到设计和工艺条件下的最优化。 关键词： 键合点限定，模型，芯片面积，最优化 (浏览全文) 发表日期： 2007年08月07日 同行评议：

该文章讨论如何通过键合点所限定的芯片面积来指导IC设计过程中工艺的选择，属于部分产品设计将遇到的特殊情况，并不具有10分普遍的指导意义，学术价值1般。个人认为应着重研究如何在加工工艺发展如此迅速的形势下，避免因键合点的限制导致芯片面积不能进1步减小。 　

综合评价： 修改稿： 注：同行评议是由特聘的同行专家给出的评审意见，综合评价是综合专家对各要素的评议得出的数值，以1至5颗星显示。