引言 近10 年来，对于声波在声子晶体或声子准晶(2)
2013-09-09 01:04
导读：根据Snell 定律：折射率│n│=sin i / sin r，又由图5 知：d =L ( tan i +tan r ) cos 其中L 表示声子晶体的厚度，i 表示入射角度，r 表示折射角度。 从图6 中，我们
根据Snell 定律：折射率│n│=sin θi / sin θr，又由图5 知：Δd =L ( tan θi +tan θr ) cos θ其中L 表示声子晶体的厚度，θi 表示入射角度，θr 表示折射角度。
从图6 中，我们能得到Δd =5.01 mm，而且出射波束的确在入射波束的左侧，再由测量到的声波束偏移量，可得到负折射率n ≈ - 0.69。
另外，根据近轴近似理论[9]，点源和成像中心区的距离ΔS 能够写作ΔS= ( 1+1 /│n│)L，这提供了另外一种获得折射率的方法。在本实验中，ΔS 是31.5mm (17.5a)，声子准晶体的厚度是12.5mm，所以负折射率n ≈ - 0.66。
这两种方法得到的折射率近似一致，进一步证实了二维8 次对称准晶样品的负折射效应。
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2 结论
本文通过实验实现了二维8 次对称准晶样品的负折射聚焦成像，并测量分析了该样品的折射率。通过声子准晶体的透射声场聚焦成像实验与声子准晶体的负折射率测量实验，证实了二维声子准晶体与二维声子晶体一样具有负折射效应，进一步验证了文献[17]的理论工作，同时为声子准晶体走向实际应用提供了前期的实验导向。可以期待，这种反常的折射效应和成像效应能够给声学器件的设计思维带来很大的突破。
参考文献
