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2.2 本章小结
通过本章的论述我们了解了RTK的基本原理、系统组成及工作条件。RTK的误差来源有很多种,知道了它们的来源,对于我们采取一定的措施保证RTK的测量精度,提供了理论依据。RTK的技术特点是RTK优于其他测量技术的概括。虽然RTK的系统是现代测量的最新成果,但它应有不足之处。了解了RTK的局限性,使我们知道了对于一些测量RTK也是受到限制的。RTK的作业过程是使用RTK的基本步骤,也是今后使用RTK所必须进行的操作,通过对作业过程的叙述,使我们初步掌握了RTK的使用方法。
第3章 利用RTK进行点放样和曲线放样
3.1 利用RTK进行点放样
物的形状和大小是通过其特征点在实地上表示出来的。如建筑物的中心、四个角点、转折点等。因此点放样是建筑物和构筑物放样的基础。用RTK进行点位放样同传统放样一样,需要两个以上的控制点,但不同的是传统的方法是通过距离或方向来放样定点,或用全站仪用两点定向后放样定点,而RTK是用2~3个控制点进行点校正,就可在无光学通视(电磁波通视)的条件下进行点位的放样,这是传统方法难以实现的。
3.1.1 点放样工程实例
1、测前准备:获取2~3个控制点的坐标(如果没有已知数据可用静态GPS先进行控制测量),解算或用相关软件求出放样点的坐标,检查仪器是否能正常使用。
2、站的架设:将基准站架设在较空旷的地方(附近无高大建筑物或高压电线等)
架设完后安装电台,连接好仪器后开启基准站主机,打开电台并设置频率。
3、建立新工程:开启移动站主机,待卫星信号稳定并达到5颗以上卫星时,先连接蓝牙,连接成功后设置相关参数:工程名称、椭球系名称、投影参数设置、参数设置(未启用可以不填写),最后确定,工程新建完毕。
4、输入放样点:打开坐标库,在此我们可以输入编辑放样点,也可以事先编辑好放样点文件,点击打开放样点文件,软件会提示我们是对坐标库进行覆盖或是追加。
5、测量校正:测量校正有两种方法:控制点坐标求校正参数和利用点校正。
第一中方法,利用控制点坐标库(即计算校正参数的一个工具)的做法大致是这样的:假设我们利用A,B这两个已知点来求校正参数,那么我们必须记录下A,B这两个点的原始坐标(即移动站在Fixed的状态下记录的这两个点的坐标),先在控制点坐标库中输入A点的已知坐标之后软件会提示你输入A点的原始坐标,然后再输入B点的已知坐标和B点的原始坐标,这样就计算出了校正参数。
第二种方法,利用校正向导校正,此方法又分为基准站在已知点校正和基准站在未知点的校正。我们这里只说明一下基准站架设在未知点的校正方法。
(1)利用一点进行校正:步骤依次为工具 校正向导 基准站架设在未知点 输入当前移动站的已知坐标 待移动站对中整平后并出现固定解 校正。
(2)利用两点校正:步骤依次为工具 校正向导 基准站架设在未知点 输入当前移动站的已知坐标 待移动站对中整平后并出现固定解 下一步 将移动站移到下一个已知点 输入当前移动站的已知坐标 待移动站对中整平后并出现固定解 校正。
(3)利用三点校正:与利用两点校正相同,只是多增加了一个已知点,多重复了一遍。
6、 放样点:选择测量 点放样,进入放样屏幕,点击打开按钮目,打开坐标库,在这里可以打开事先编辑好的放样文件,选择放样点,也可以点击“增加”输入放样点坐标。本次工程点的设计坐标值见表3.1。
表3.1 点放样设计坐标
3.1.2 点放样的精度分析
放样完毕后,为了用RTK放样点的精度。我们制定如下方案:用莱卡TC405对放样点进行精确测量(由于测量的目的是检验RTK的点放样精度,所以依然使用RTK所用来校正的基准点作为控制点进行定向,这样可以减少误差的叠加,并将全站仪的测量误差忽略不计,即将全站仪的测量结果看作真值,与点的设计坐标值进行比较)。点的设计坐标值用X,Y表示,全站仪实际测量值用X`,Y`表示,详细数据见表3.2。
表3.2 点放样设计值与检验值比较