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流图法在光探测器芯片高频特性测量校准上的应

2013-06-25 01:19

全部作者： 苗昂 李轶群 崔海林 吴强 第1作者单位： 北京邮电大学 摘要： 在采用光调制法测量光探测器芯片高频响应特性的过程中，测试系统往往忽视光调制器响应、高频探针衰减以及端口间失配等误差中的1项或几项。为了降低校准不完善对结果造成的误差，本文提出了基于信号流图的系统校准分析方法，考虑了各种频响误差及端口间失配的影响，推导出校准公式。利用该法对1种光探测器的典型测试系统——基于LCA（Lightwave component analyzer）的测试系统做了进1步校准分析，在130MHz～20GHz范围内，测量了1种新型光探测器的高频响应参数S21，结果表明经流图法校准的S21参数比仅使用原有校准算法有明显改善，证明了该方法的可行性。 关键词： 光探测器；高频响应；校准 (浏览全文) 发表日期： 2006年11月24日 同行评议：

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